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“优质fdd-TE测试白卡”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 认证： | ISO9001/IS07816 |
| 功能： | 测试卡 | 材质： | PVC |
| 类型： | CPU卡 | 型号： | CMW500 LTE |
| 规格： | 85.5*54*0.80 | 包装： | 中性 |
| 拔插次数： | 800-5000 | 工作温度： | 0-60℃ |
| 产品包装： | 中性 | 供货数量： | 1000000 |
| 原厂地： | 深圳 | 供应商： | 骏诺达 |
| 产量： | 100000 |
“优质fdd-TE测试白卡”详细介绍
我司供应的手机测试芯片卡，质量优良、性能稳定、兼容性强、耐磨实用，欢迎购买测试。
FDD-LTE和TDD-LTE测试卡，主要配合CMW500综测仪进行耦合测试、天线测试等各种功能性测试。
产品名称：LTE手机测试卡 应用领域：通信、科研、电力、汽车等应用领域内的微波射频元器件。 此产品促销中,价格优惠,欲购从速! LTE-USIM CARD测试卡 手机测试卡 通过仪器测试 LTE测试卡在进入4G移动通信时代诞生，LTE是英文Long Term Evolution的缩写。LTE也被通俗的称为3.9G，具有100Mbps的数据下载能力，被视作从3G向4G演进的主流技术。 LTE的研究，包含了一些普遍认为很重要的部分，如等待时间的减少、更高的用户数据速率、系统容量和覆盖的改善以及运营成本的降低。 3GPP长期演进(LTE)项目是近两年来3GPP启动的最大的新技术研发项目，这种以OFDM/FDMA为核心的技术可以被看作“准4G”技术。 手机测试卡主要分有3G网络和非3G网络，现在我国3G网络主要有WCDMA网络，EVDO网络和TD-SCDMA网络，相对也产生了WCDMA手机测试卡，EVDO测试卡，TD-SCDMA测试卡，非3G测试卡有GSM手机测试卡,CDMA手机测试卡
品质保证
1、 4G测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G对手机，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。
2、 专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
FDD-LTE和TDD-LTE测试卡，主要配合CMW500综测仪进行耦合测试、天线测试等各种功能性测试。
产品名称：LTE手机测试卡 应用领域：通信、科研、电力、汽车等应用领域内的微波射频元器件。 此产品促销中,价格优惠,欲购从速! LTE-USIM CARD测试卡 手机测试卡 通过仪器测试 LTE测试卡在进入4G移动通信时代诞生，LTE是英文Long Term Evolution的缩写。LTE也被通俗的称为3.9G，具有100Mbps的数据下载能力，被视作从3G向4G演进的主流技术。 LTE的研究，包含了一些普遍认为很重要的部分，如等待时间的减少、更高的用户数据速率、系统容量和覆盖的改善以及运营成本的降低。 3GPP长期演进(LTE)项目是近两年来3GPP启动的最大的新技术研发项目，这种以OFDM/FDMA为核心的技术可以被看作“准4G”技术。 手机测试卡主要分有3G网络和非3G网络，现在我国3G网络主要有WCDMA网络，EVDO网络和TD-SCDMA网络，相对也产生了WCDMA手机测试卡，EVDO测试卡，TD-SCDMA测试卡，非3G测试卡有GSM手机测试卡,CDMA手机测试卡
“优质fdd-TE测试白卡”其他说明
| 产品规格 | 85.5*54*0.8 |
| 工作温度 | 0-60 |
| 擦写次数 | 800-5000 |
| 适用仪器 | CMW500、CMU200 |
| 产品认证 | ISO9001 |
